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本发明公开了一种结合物理信息和生成对抗网络的高精度电子设备寿命评估方法，涉及电子设备整机寿命评估领域。具体为：将关于退化特性的物理模型引入神经网络中，使神经网络既可以实现高精度寿命评估，又可以大幅减少测试数据需求量，同时具备较好的解释性。此...
该专利属于中北大学所有，仅供学习研究参考，未经过中北大学授权不得商用。

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