下载温度传感器最终测试用温度校准系统的技术资料

文档序号:4212553

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本实用新型公开了一种温度传感器最终测试用温度校准系统,包括测试机、待测芯片以及参考芯片,所述测试机分别连接所述待测芯片和所述参考芯片,所述参考芯片设置在所述待测芯片附近,用来采集所述待测芯片附近的温度信息,并将该温度信息发送给所述测试机,所...
该专利属于上海华虹NEC电子有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海华虹NEC电子有限公司授权不得商用。

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