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本发明涉及一种片剂缺陷检测方法，该方法通过获取待检测片剂的图像信息、以及与待检测片剂对应的合格样品数据，基于图像信息，生成待检测片剂的各行高度信息，将各行高度信息与合格样品数据中对应行高度信息进行比对，根据比对结果，确定待检测片剂的缺陷检测...
该专利属于平方和（北京）科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过平方和（北京）科技有限公司授权不得商用。

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