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元器件寿命评估方法、装置、计算机设备和存储介质制造方法及图纸
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文档序号:42081874
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本申请涉及一种元器件寿命评估方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括:根据不同应力条件下的元器件的性能指标,对不同应力条件下的加速寿命试验模型进行拟合,得到拟合加速寿命试验模型;基于拟合加速寿命试验模型,确定不同应力条...
该专利属于中科可控信息产业有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过中科可控信息产业有限公司授权不得商用。
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