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本公开提供一种用于确定工件加工轨迹的方法、装置、设备以及介质，其中，方法包括：利用获取的表征待处理工件轮廓信息的原始数据点集，确定初始化参数；基于初始化参数，确定原始数据点集中的初始特征点，作为插值数据点集；利用从插值数据点集中选取的目标特...
该专利属于华中科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过华中科技大学授权不得商用。

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