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基于NMCDP框架的工业图像缺陷检测方法、设备及介质技术
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文档序号:42021514
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本发明提供了一种基于NMCDP框架的工业图像缺陷检测方法、设备及介质,涉及表面缺陷检测和计算机人工智能领域,方法包括:收集多标签工业缺陷图像并进行预处理,构建数据集;构建多通道区别池化的分类模型;训练分类模型,得到所有缺陷类别的类激活图;根...
该专利属于中国地质大学(武汉)所有,仅供学习研究参考,未经过中国地质大学(武汉)授权不得商用。
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