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本技术公开了一种用于光衰减器的光纤性能参数检测装置，包括机体，所述机体的顶部设置有显示屏，所述显示屏的一侧设置有操作面板，所述机体远离显示屏的底部设置有矩形结构的伸缩架，所述机体的底部与伸缩架的连接处开设有伸缩槽，且伸缩架通过伸缩槽与机体之...
该专利属于武汉软件工程职业学院（武汉开放大学）所有，仅供学习研究参考，未经过武汉软件工程职业学院（武汉开放大学）授权不得商用。

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