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本技术提供了一种具有多扫描方式的X射线检测系统，包括框架、探测器扫描机构、工件直线扫描机构、工件圆周扫描机构和X射线源扫描机构；所述探测器扫描机构安装至框架上部，所述探测器扫描机构用于实现检测透过工件的X射线；所述工件直线扫描机构和工件圆周...
该专利属于天津三英精密仪器股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过天津三英精密仪器股份有限公司授权不得商用。

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