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本发明公开的X射线荧光光谱法快速检测无铅锡基焊料中锗含量的方法，属于化学检测技术领域。选择浇铸的圆柱实心样品，直径26mm‑44mm，厚度8mm‑40mm，使用金相试样磨抛机制样。利用软件Epsilon 3 Software，选择KA分析谱...
该专利属于云南锡业新材料有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过云南锡业新材料有限公司授权不得商用。

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