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本公开提供了一种内存故障处理方法、装置、电子设备、介质及芯片,涉及内存技术领域。该方法包括:利用预设检测技术检测第一内存中的数据的数据状态;若第一内存中第一内存页的数据存在单比特故障,且单比特故障在第一内存页的累计出现次数大于或等于预设阈值...该专利属于江原芯科技(上海)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过江原芯科技(上海)有限公司授权不得商用。
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本公开提供了一种内存故障处理方法、装置、电子设备、介质及芯片,涉及内存技术领域。该方法包括:利用预设检测技术检测第一内存中的数据的数据状态;若第一内存中第一内存页的数据存在单比特故障,且单比特故障在第一内存页的累计出现次数大于或等于预设阈值...