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电容测试装置、方法、电子设备和存储介质制造方法及图纸
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文档序号:41849940
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本申请提供了一种电容测试装置、方法、电子设备和存储介质,涉及计算机技术领域,其中包括:电容接口模块,用于获取各个待测试电容的元件参数;控制模块,用于基于各个待测试电容的元件参数,确定各个待测试电容的充电电压等级;基于各个待测试电容的充电电压...
该专利属于苏州元脑智能科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过苏州元脑智能科技有限公司授权不得商用。
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