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本技术提供了一种ICP‑MS形态分析装置及ICP‑MS形态分析仪。所述装置包括控制器和与所述控制器电连接的进样系统、色谱系统、紫外消解系统、蒸气发生系统和分析系统，其中，所述进样系统位于所述色谱系统的上游，所述色谱系统的下游以择一的方式连接...
该专利属于北京彩谱仪器有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京彩谱仪器有限公司授权不得商用。

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