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本发明涉及一种电子天平量程校准方法，包括如下步骤：ａ）称量并记录电子天平第一次空载读数；ｂ）称量并记录电子天平加载已知质量砝码的读数；ｃ）称量并记录电子天平第二次空载读数；ｄ）根据第一、第二空载读数及加载读数求解新的灵敏度系数及零点修正系数...该专利属于梅特勒-托利多仪器（上海）有限公司;奥豪斯仪器(上海)有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过梅特勒-托利多仪器（上海）有限公司;奥豪斯仪器(上海)有限公司授权不得商用。