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本发明提供基于多模态特征匹配的半导体芯片异常检测方法及介质，包括步骤：将大规模带标注的多场景芯片异常检测数据作为模型训练的源域数据；将无标注的特定场景图像作为模型应用的目标域数据；根据源域数据的分割标注为每张训练图像生成描述标注与图像分割标...
该专利属于高视科技（苏州）股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过高视科技（苏州）股份有限公司授权不得商用。

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