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本发明公开了一种轻掺杂离子注入方法,涉及半导体领域的离子注入制程。现有的轻掺杂离子注入方法容易发生通道效应。本发明的轻掺杂离子注入方法以原子团为单位向晶圆进行离子注入,所述原子团包括至少两个注入离子。所述注入离子在注入过程中形成离子束,其中...该专利属于中芯国际集成电路制造(上海)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过中芯国际集成电路制造(上海)有限公司授权不得商用。
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本发明公开了一种轻掺杂离子注入方法,涉及半导体领域的离子注入制程。现有的轻掺杂离子注入方法容易发生通道效应。本发明的轻掺杂离子注入方法以原子团为单位向晶圆进行离子注入,所述原子团包括至少两个注入离子。所述注入离子在注入过程中形成离子束,其中...