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本发明提供了一种标签噪声去除与光谱分布建模联合优化方法，属于高光谱领域。所述方法通过非均匀空间采样提取标签可靠的样本，利用多中心的光谱原型对分类特征进行约束，并通过逐像素重叠度损失、类别交叉熵损失和光谱原型对比损失的联合优化，实现标签含噪条...
该专利属于北京航空航天大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京航空航天大学授权不得商用。

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