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一种沟槽栅MOSFET器件及制备方法技术
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文档序号:41738799
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本发明涉及半导体技术领域中的一种沟槽栅MOSFET器件,包括衬底层和外延层,外延层的上表面对称设置有源极结构,或外延层内嵌入设置有对称的源极结构,源极结构包括阱区、沟道区、第一源极接触区、第二源极接触区和源极电极,对称的源极结构之间设置有沟...
该专利属于浙江大学所有,仅供学习研究参考,未经过浙江大学授权不得商用。
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