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本申请涉及电路可靠性测试技术领域，涉及一种CPLD可靠性测试方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：在CPLD器件的测试参数设置完毕的情况下，获取所述CPLD器件的待测功能项目请求；设置多种测试环境，每种测试环境包含至少一个环境应力...该专利属于中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））授权不得商用。