下载半导体芯片检测场景大规模文件拷贝优化方法、设备及介质的技术资料

文档序号:41698007

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本发明提供半导体芯片检测场景大规模文件拷贝优化方法、设备及介质,包括步骤:接收终端发送的文件拷贝请求;通过接口参数获取源文件地址集合以及拷贝的目标地址;获取当前系统环境;遍历源文件地址集合,再根据拷贝的目标地址以及系统环境组装系统拷贝文件指...
该专利属于高视科技(苏州)股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过高视科技(苏州)股份有限公司授权不得商用。

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