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提供了一种针对电荷保持部具有优异遮光性的光检测装置。该光检测装置包括：半导体基板，其将第一方向作为厚度方向，并且包括由平面指数表示的第一晶面，所述第一晶面沿着垂直于所述第一方向的水平面延伸；光电转换部，其设置在所述半导体基板中；第一导电型区...
该专利属于索尼半导体解决方案公司所有，仅供学习研究参考，未经过索尼半导体解决方案公司授权不得商用。

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