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本发明公开了一种基于GaN器件1/f噪声的可靠性测试系统，属于半导体器件测试领域。该系统包括半导体参数分析仪、探针台、放大电路、数字IO设备、金属机箱、计算机PC、采集卡及其机箱；通过运算放大器对器件电流进行放大得到电压信号，通过采集卡采集...
该专利属于北京大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京大学授权不得商用。

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