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本发明提供一种相量测量方法、装置、存储介质及电子设备，属于相量测量技术领域。相量测量方法包括：获取初始采样信号；基于预置的动态相量模型，对初始采样信号进行预处理，得到基波信号的有效采样值；基于基波信号的有效采样值，模拟相量参数的非线性变化波...
该专利属于北京智芯微电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京智芯微电子科技有限公司授权不得商用。

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