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本技术涉及测试座技术领域，尤其是一种TVS二极管老化座，包括上盖、底座、探针，所述上盖的左端部与底座的左端部活动连接，所述探针贯穿地设于底座上，所述上盖的下端部开设有容置槽；所述底座上端部开设有测试腔；所述探针上端部至少部分位于测试腔内；所...
该专利属于金华市淖悦精密科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过金华市淖悦精密科技有限公司授权不得商用。

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