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本发明涉及缺陷检测领域，公开了一种结合深度特征的传感器封装过程缺陷检测装置及方法，通过深度学习自动提取特征、聚类分析和相似度计算等步骤，实现高效、准确的传感器封装过程质量自动检测。所述结合深度特征的传感器封装过程缺陷检测方法利用深度特征检测...
该专利属于常州爱克赛伦自动化设备有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过常州爱克赛伦自动化设备有限公司授权不得商用。

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