温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明涉及封装二极管预测分析技术领域，具体涉及二极管封装寿命预测方法，包括以下步骤：采集二极管在不同工作条件下的历史运行数据；通过非侵入式微观成像技术定期监测二极管封装材料的微观结构变化，计算退化速率；将历史运行数据和退化速率结合起来，构建...
该专利属于深圳市玛珂斯科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市玛珂斯科技有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。