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本发明提供一种半导体发光元件质量的检测方法及系统，涉及数据处理技术领域，所述方法包括：根据识别的发光二极管区域与背景区域，计算动态关联因子，所述动态关联因子用于量化发光二极管与背景之间的特征差异；根据计算出的动态关联因子，对预处理图像进行图...
该专利属于深圳市呈泰半导体科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市呈泰半导体科技有限公司授权不得商用。

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