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本发明提供异常数据检测方法及异常数据诊断器、射线测厚仪，异常数据检测方法包括：实时从X射线测厚装置采集检测数据；对检测数据进行异常检测，发现异常检测数据信息；存储异常检测数据信；输出异常检测数据信息；生成诊断报告，诊断报告包括异常检测的详细...
该专利属于北京华力兴科技发展有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京华力兴科技发展有限责任公司授权不得商用。

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