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一种基于卷积神经网络的光纤连接器及半导体材料表面采样图像超分辨率重建技术制造技术
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文档序号:41458436
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本发明涉及白光干涉图像处理的高精度端面检测技术领域,具体涉及一种基于卷积神经网络的光纤连接器及半导体材料表面采样图像超分辨率重建技术。包括步骤:使用CCD相机拍摄并收集高分辨率端面图像数据,并对数据进行退化,对退化后的低分辨率图像提取像素点...
该专利属于中国计量大学所有,仅供学习研究参考,未经过中国计量大学授权不得商用。
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