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本文公开了用于对IC的每个引脚编程多个参数的装置和方法。在某些实施例中，使用外部部件结合IC的内部检测电路来设置IC的系统操作参数。内部检测电路允许用IC的一个引脚对多个参数进行编程，从而减小封装尺寸、板面积和/或芯片复杂性。例如，本文的教...
该专利属于美国亚德诺半导体公司所有，仅供学习研究参考，未经过美国亚德诺半导体公司授权不得商用。

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