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基于对聚焦敏感的成本协方差场的辅助特征布置制造技术
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文档序号:4139370
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本发明涉及基于对聚焦敏感的成本协方差场的辅助特征布置。本发明的一个实施例提供一种确定光学邻近校正后(OPC后)掩膜布局内的辅助特征布置的系统。在操作期间,该系统接收代表OPC前掩膜布局中的成组多边形的成组目标图案。该系统然后基于目标图案来构...
该专利属于新思科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过新思科技有限公司授权不得商用。
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