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一种基于数值模拟的大模组单晶叶片杂晶缺陷控制方法技术
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文档序号:41366621
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本发明属于单晶高温合金铸件制备技术领域,具体涉及一种基于数值模拟的大模组单晶叶片杂晶缺陷控制方法。首先通过数值模拟预测大模组单晶叶片的定向凝固温度场,明确成分过冷孤立区域的分布情况。分析成分过冷孤立区域与定向凝固炉外围加热区域和中心加热区域...
该专利属于中国科学院金属研究所所有,仅供学习研究参考,未经过中国科学院金属研究所授权不得商用。
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