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本发明公开了基于初始化时段期间的测量选择参数／模式的方法和装置。在一个方面，集成电路包括：阈值检测电路，被耦合来在集成电路的初始化时段期间测量来自包括与集成电路的第一外部端子耦合的一个或多个组件的第一外部电路的信号。选择电路被耦合到阈值检测...
该专利属于电力集成公司所有，仅供学习研究参考，未经过电力集成公司授权不得商用。

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