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本申请适用于测量技术领域，提供了一种产品的测量方法、系统和存储介质。上述产品的测量方法包括：接收管理终端发送的第一测量指令；基于第一测量指令获取待测圆孔的第一测量数据；基于第一测量指令获取待测圆孔的第二测量数据；根据第一测量数据以及第二测量...
该专利属于深圳市崇禧精密金属制品有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市崇禧精密金属制品有限公司授权不得商用。

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