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本发明公开一种6000A压接式半导体器件的功率循环试验系统及方法，属于功率半导体器件可靠性测试技术领域。所述功率循环试验系统包括：功率循环试验装置、半导体开关组、模温机和至少一个功率循环夹具；所述功率循环试验装置包括：6000A直流电源和控...
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