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本发明公开了一种分析装置和分析系统，分析装置包括：底板；设置在底板上的芯片固定机构；设置在底板上的电泳机构和成像机构；和设置在第一空腔并与分析工位所在位置相互对应的阻挡机构；在芯片位于分析工位上时，芯片固定机构对芯片进行固定，阻挡机构阻挡芯...
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