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设备树参数调试方法和装置、电子设备和存储介质制造方法及图纸
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文档序号:41313989
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本发明公开设备树参数调试方法和装置、设备和存储介质。该方法包括:获取修改后的目标DTB文件;将目标DTB文件缓存于预设内存以根据目标DTB文件进行热启动;若正常启动,则将符合预期的目标DTB文件更新至预设的非易失性存储器中;以及若未正常启动...
该专利属于瑞芯微电子股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过瑞芯微电子股份有限公司授权不得商用。
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