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本发明公开了一种基于Agilent VEE的霍尔电流传感器测试方法,属于霍尔电流传感器技术领域,包括:S1、搭建测试电路;具体为:首先将集流柱穿过霍尔电流传感器;然后将直流电源、直流电子负载、集流柱串联组成测量回路;最后将直流电子负载和上位...该专利属于中国电子科技集团公司第十八研究所所有,仅供学习研究参考,未经过中国电子科技集团公司第十八研究所授权不得商用。
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本发明公开了一种基于Agilent VEE的霍尔电流传感器测试方法,属于霍尔电流传感器技术领域,包括:S1、搭建测试电路;具体为:首先将集流柱穿过霍尔电流传感器;然后将直流电源、直流电子负载、集流柱串联组成测量回路;最后将直流电子负载和上位...