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本发明属于工业缺陷检测技术领域，具体涉及一种基于模板匹配的开放缺陷检测方法，包括：删除线扫成像的待测产品模板图像或实际图像中的前端黑色背景，实现在模板和实际图像按列对齐时产品头部位置对齐；确定实际图像中产品中部畸变产生位置，确定每个位置在模...
该专利属于华中科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过华中科技大学授权不得商用。

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