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本申请提供一种兼容电平量和开关量的检测电路及装置，包括串联设置的MCU控制端和MCU检测端，MCU检测端连接有第一检测支路和第二检测支路。MCU控制端用于根据被测设备输出的被测量断开第一检测支路，且接通第二检测支路，以根据测量电平量检测所述...
该专利属于苏州君林智能科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州君林智能科技有限公司授权不得商用。

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