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本发明提供一种SOC性能统计的方法和装置、电子设备及介质，其中，所述方法包括：选择待分析的信号文件；确定所述信号文件对应的端口文件，将端口的待统计信息填写至所述端口文件中；根据所述端口文件对所述信号文件进行解析，在所述信号文件中查找到所述待...
该专利属于上海壁仞科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海壁仞科技股份有限公司授权不得商用。

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