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本发明抑制检测精度的降低。该磁性检测装置包括：磁阻元件(10)；以及检测单元(109)，基于磁阻元件的电阻值来检测外部磁场。磁阻元件包括：固定层(11)，其中磁化方向固定；非磁性层(12)，安放在固定层上；以及自由层(13)，安放在非磁性层...
该专利属于索尼半导体解决方案公司所有，仅供学习研究参考，未经过索尼半导体解决方案公司授权不得商用。

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