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本发明公开了一种工件平面点位校正方法、装置、电子设备和存储介质。其中，该方法包括：根据目标工程图纸确定目标标定点位，并采集所述目标标定点位对应的目标偏移点位；根据所述目标标定点位和所述目标偏移点位的位置关系确定偏移距离和偏移角度；基于所述偏...
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