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本发明提供了一种基于超声背散射信号的非均匀晶粒尺寸检测方法和系统，涉及金属材料的技术领域，包括：获取待测金属材料的超声信号；基于所述待测金属材料的超声信号，得到所述待测金属材料的超声背散射信号；基于所述待测金属材料的超声背散射信号，得到所述...
该专利属于北京航空航天大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京航空航天大学授权不得商用。

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