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半导体器件制造方法技术
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文档序号:4125487
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本发明提供一种通过简单的步骤制造具有包括绝缘膜、半导体膜、导电膜等的膜图案的基板的方法,以及以高产量制造低成本的半导体器件的方法。根据本发明,在基板上形成具有低润湿性的第一保护膜之后,在第一掩模图案的外缘上施加或排放具有高润湿性的材料,从而...
该专利属于株式会社半导体能源研究所所有,仅供学习研究参考,未经过株式会社半导体能源研究所授权不得商用。
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