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本发明涉及传感器测试领域，具体涉及一种热电‑压阻型传感器性能测试装置和测试方法。该装置包括温控系统、高精度机械位移系统、六轴位移台、压力传感器、压力表、多通道万用表以及上位机。利用上述装置可以测试热电‑压阻型传感器的温度传感灵敏度，压力传感...
该专利属于中国科学院金属研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院金属研究所授权不得商用。

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