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本发明涉及单光子探测技术领域，尤其是一种利用对称APD控制APD单光子探测工作温度的方法和装置，在单光子探测器中对称布置两个性能完全相同的APD，令两个APD中的一个APD在盖革模式下工作，用于进行单光子探测，令另一个APD在线性模式下工作...
该专利属于华东师范大学所有，仅供学习研究参考，未经过华东师范大学授权不得商用。

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