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本发明公开了一种空间频域成像方法及系统，方法包括：在避光环境下向待测组织投射相互正交的两个正弦条纹结构光，相机采集经过待测组织表面反射的图像；对图像的光强信息解调得到待测组织的直流分量和在各方向上的交流分量；计算待测组织的相位，然后计算待测...
该专利属于中国科学院合肥物质科学研究院所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院合肥物质科学研究院授权不得商用。

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