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基于门电压测定有机自旋电子件性能的方法及测定系统技术方案
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下载基于门电压测定有机自旋电子件性能的方法及测定系统的技术资料
文档序号:41206663
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本发明公开了基于门电压测定有机自旋电子件性能的方法及测定系统;本发明涉及自旋电子学技术领域;使用兰道尔‑布特克公式建立载流子自旋反转的自旋流的这一过程;所需的综合模型需首先建立出跃迁概率算法;对于目标有机磁性分子器件,使用马库斯跃迁率理论,...
该专利属于吕梁学院所有,仅供学习研究参考,未经过吕梁学院授权不得商用。
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