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本发明提供了一种用于确定带吸收峰光学元件光学常数的方法，属于光学元件测试技术领域，首先采用预处理技术对光学元件进行清洗处理，接着对光学元件光谱性能和厚度进行检测，依据光学元件光谱性能、厚度和光学常数间关联理论模型，对光学元件实测光谱数据反演...
该专利属于天府兴隆湖实验室所有，仅供学习研究参考，未经过天府兴隆湖实验室授权不得商用。

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