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性能评测方法、装置、终端及存储介质制造方法及图纸
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文档序号:41175608
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本公开提供一种性能评测方法、装置、终端及存储介质,其中,性能评测方法包括:在待测状态下,获取多个成像距离下采集到的第一图像;其中,待测状态为,模拟屏下结构光成像的状态;在参考状态下,获取多个成像距离下采集到的第二图像;其中,参考状态为,未模...
该专利属于北京小米移动软件有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过北京小米移动软件有限公司授权不得商用。
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